Электронная микроскопия
| Наименование | Розничная цена без НДС | Оптовая цена без НДС | Срок поставки |
|---|---|---|---|
| Настольные сканирующие электронные микроскопы | по запросу | по запросу | под заказ |
| Программное обеспечение | по запросу | по запросу | под заказ |
| Просвечивающие электронные микроскопы | по запросу | по запросу | под заказ |
| Катоды | по запросу | по запросу | под заказ |
| Серия EM21 | по запросу | по запросу | под заказ |
| Установки для напыления | по запросу | по запросу | под заказ |
| Серия EM32 | по запросу | по запросу | под заказ |
| Сеточки для образцов ПЭМ (ТЕМ) | по запросу | по запросу | под заказ |
| Ультрамикротомы | по запросу | по запросу | под заказ |
| Боксы для хранения сеточек | по запросу | по запросу | под заказ |
| Серия EM33 | по запросу | по запросу | под заказ |
| Сушка в критической точке | по запросу | по запросу | под заказ |
| Серия EM40X | по запросу | по запросу | под заказ |
| Столики (стабы) для образцов СЭМ | по запросу | по запросу | под заказ |
| Серия EM40Pro | по запросу | по запросу | под заказ |
| Системы хранения столиков (стабов) | по запросу | по запросу | под заказ |
| Манипуляторы для столиков, сеточек и образцов | по запросу | по запросу | под заказ |
| Серия EM50Pro | по запросу | по запросу | под заказ |
| Калибровочные образцы для СЭМ (SEM) и ПЭМ (ТЕМ) | по запросу | по запросу | под заказ |
| Серия EM50X | по запросу | по запросу | под заказ |
| Высокоскоростной сканирующий электронный микроскоп HEM60 | по запросу | по запросу | под заказ |
| Токопроводящие пленки и составы | по запросу | по запросу | под заказ |
| Оборудование для нарезки биообразцов (алмазные ножи, стекла) | по запросу | по запросу | под заказ |
| Сканирующий электронный микроскоп со сфокусированным ионным пучком DB55 | по запросу | по запросу | под заказ |
| Сканирующий электронный микроскоп EM20 | по запросу | по запросу | под заказ |